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走査トンネル顕微鏡による局所仕事関数の測定 - J-STAGE
jstage.jst.go.jp の検索結果のみを表示STM と局所分光 - J-STAGE
STM の探針 (金属),トンネルギャップ,試料(半導体)は,金属― 絶縁体― …
CiNii 論文 - 走査トンネル顕微鏡による局所仕事関数の測定
走査トンネル顕微鏡による局所仕事関数の測定 | CiNii Research
研究課題別研究評価 - 国立研究開発法人科学技術振興機構
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