S-H式レジリエンス検査（Sukemune-Hiew Resilience Test）は、個人が持つレジリエンス、すなわち逆境やストレスに対して立ち直る力を測定する心理検査です。 この検査は、広島大学の故祐宗省三名誉教授とカナダのニューブランズウィック大学のChok C. Hiew教授によって共同で開発されました。